电报资讯
记者提问
专家发布
专家库
APP下载
点击登录
2025年04月17日 08:53:33
【三星4nm逻辑芯片测试生产良率已达40%以上】
《科创板日报》17日讯,三星4nm逻辑芯片的测试生产良率已超过40%。由于该逻辑芯片是三星12层HBM4的关键组件,良率的提升预计将加速三星HBM4的开发。
阅 6.98W+
特别声明:文章内容仅供参考,不构成投资建议。投资者据此操作风险自担。
推荐话题
商讯
查看更多