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2026.09.11 22:04:21
拓斯达在光博会展出光芯片测试装备
蓝鲸新闻9月11日电,蓝鲸新闻记者获悉,拓斯达参股公司来勒光电在第27届光博会(CIOE 2026)上首次展出专为激光器芯片量产测试打造的“CHIP TEST芯片测试系统”。据悉,设备可一站式完成芯片光电性能、光谱、发散角等全维度测试,适配DFB、EML等主流芯片品类。
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